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WFX-860B Pro Zeeman AA Spektralphotometer vom chinesischen Hersteller – Fortschrittliches 8-Lampen-Lichtquellensystem
Spezifikationen
| Wellenlängenbereich | 170 nm bis 900 nm |
| Wellenlängengenauigkeit | Besser als ±0,10 nm |
| Wellenlängenwiederholbarkeit | ≤ 0,05 nm |
| Basisstabilität | Basislinienabweichung nach 60 Minuten: 0,0005 Abs., Momentanes Rauschen: 0,0005 Abs. |
| Dynamische Basisstabilität | 30-Minuten-Basisliniendrift 0,001 Abs, Momentanes Rauschen 0,001 Abs |
| Auflösung | Abweichung der spektralen Bandbreite 0,02 nm, Energieverhältnis Tal-Spitze 25 % (Mn bei 279,5 nm und 279,8 nm) |
| Mit | Nachweisgrenze 0,002 g/ml, charakteristische Konzentration 0,03 g/ml/1 %, Präzision 0,25 % |
| Hintergrundkorrektur | Besser als 150 Mal |
| Abmessungen und Gewicht | 1010 mm × 620 mm × 630 mm (L × B × H), 115 kg |
Häufig gestellte Fragen
❓ Welchen Wellenlängenbereich deckt dieses Instrument ab?
Das Instrument deckt einen Wellenlängenbereich von 170 nm bis 900 nm ab und eignet sich daher für eine Vielzahl analytischer Anwendungen, einschließlich UV-, sichtbarer und nahsichtbarer Spektralbereiche.
❓ Wie genau ist die Wellenlängenmessung?
Die Wellenlängengenauigkeit ist besser als ±0,10 nm, mit einer Wiederholgenauigkeit von ≤0,05 nm, wodurch hochzuverlässige und reproduzierbare Messergebnisse gewährleistet werden.
❓ Wie hoch ist die Stabilitätsleistung im Ausgangszustand?
Die statische Basislinienabweichung über 60 Minuten beträgt 0,0005 Abs bei einem momentanen Rauschen von 0,0005 Abs. Unter dynamischen Bedingungen beträgt die Basislinienabweichung über 30 Minuten 0,001 Abs bei einem momentanen Rauschen von 0,001 Abs.
❓ Was ist die Nachweisgrenze für Kupfer (Cu)?
Für Kupfer (Cu) beträgt die Nachweisgrenze 0,002 g/mL, die charakteristische Konzentration 0,03 g/mL/1% und die Messgenauigkeit 0,25%, was auf eine ausgezeichnete Empfindlichkeit und Wiederholbarkeit hinweist.
❓ Welche Hintergrundkorrekturmöglichkeiten bietet dieses Instrument?
Das Instrument bietet eine Hintergrundkorrekturleistung, die besser als 150 Mal ist, wodurch spektrale Interferenzen effektiv eliminiert und die Genauigkeit der Spurenelementanalyse verbessert wird.
❓ Welche physikalischen Abmessungen und welches Gewicht hat das Instrument?
Das Gerät hat die Abmessungen 1010 mm (L) × 620 mm (B) × 630 mm (H) und wiegt 115 kg. Bitte stellen Sie vor der Installation sicher, dass ausreichend Platz auf der Werkbank und eine geeignete Konstruktion vorhanden sind.