AES-8000 AC/DC-Lichtbogenemissionsspektrometer aus China – Hohe Empfindlichkeit für die Spurenelementanalyse | Lieferanten & Hersteller
- Gleichzeitige Bestimmung von Ag, Sn, B, Mo, Pb, Zn, Ni, Cu und anderen Elementen in geologischen Proben; wird auch zum Nachweis von Spuren von Edelmetallelementen in geologischen Proben verwendet (nach Trennung und Anreicherung).
- Bestimmung von mehreren bis Dutzenden von Verunreinigungselementen in hochreinen Metallen und hochreinen Oxiden, Pulverproben wie Wolfram, Molybdän, Kobalt, Nickel, Tellur, Bismut, Indium, Tantal, Niob usw.
- Analyse von Spuren- und Spurenelementen in unlöslichen Pulverproben wie Keramik, Glas, Kohlenasche usw.
Das Ebert-Fastic-Optiksystem und der Drei-Linsen-Lichtweg werden eingesetzt, um Streulicht effektiv zu entfernen, Halo und chromatische Aberration zu eliminieren, den Hintergrund zu reduzieren, die Lichtsammelfähigkeit zu verbessern, eine gute Auflösung und eine gleichmäßige spektrale Linienqualität zu erzielen und die Vorteile des optischen Weges eines Ein-Meter-Gitterspektrographen voll auszuschöpfen.
- Kompakte optische Struktur und hohe Empfindlichkeit;
- Gute Bildqualität, gerade Fokusebene;
- Dispersionsrate der invertierten Linie 0,64 nm/mm;
- Die theoretische spektrale Auflösung beträgt 0,003 nm (300 nm).
- Durch die Verwendung eines UV-empfindlichen CMOS-Sensors ergeben sich hohe Empfindlichkeit, ein großer Dynamikbereich und eine geringe Temperaturdrift; eine Beschichtung ist nicht erforderlich, es gibt keinen Spektralverbreiterungseffekt des Geräts und keine Probleme mit der Filmalterung.
- Das auf FPGA-Technologie basierende Hochgeschwindigkeits-Multi-CMOS-Synchron-Datenerfassungs- und -verarbeitungssystem führt nicht nur die automatische Messung von Spektrallinien analytischer Elemente durch, sondern realisiert auch die Funktionen der automatischen Kalibrierung synchroner Spektrallinien und der automatischen Hintergrundsubtraktion.
Die oberen und unteren Elektroden bewegen sich automatisch gemäß den Softwareparametereinstellungen in die vorgesehene Position und werden nach Abschluss der Anregung entfernt und wieder eingesetzt. Das System ist einfach zu bedienen und zeichnet sich durch eine hohe Ausrichtungsgenauigkeit aus.
Die patentierte Elektroden-Bildprojektionstechnologie zeigt den gesamten Anregungsprozess auf dem Beobachtungsfenster vor dem Instrument an. Dies ermöglicht es dem Benutzer, die Anregung der Probe in der Anregungskammer bequem zu beobachten und trägt zum Verständnis der Eigenschaften und des Anregungsverhaltens der Probe bei.
- Automatische Echtzeitkalibrierung der Spektrallinien zur Eliminierung des Einflusses von Instrumentendrift;
- Der Hintergrund wird automatisch abgezogen, um den Einfluss menschlicher Faktoren zu minimieren;
- Durch den Algorithmus zur spektralen Linientrennung wird der Einfluss spektraler Interferenzen reduziert;
- Automatische Umschaltung der Mehrspektrumbestimmung zur Erweiterung des Detektionsbereichs;
- Die Kombination zweier Anpassungsmethoden verbessert die Genauigkeit der Probenanalyse;
- Reichlich vorhandene Spektrallinieninformationen erweitern das Anwendungsgebiet der Analyse;
- Spezielle Analysesoftware, geeignet für unterschiedliche Anforderungen an die Probenprüfung;
- Eine komfortable Datennachbearbeitungsfunktion verkürzt den experimentellen Prozess und macht die Datenverarbeitung flexibler.
- Durch die Überwachung des Kühlwasserkreislaufs der Elektrodenklemme kann ein Durchbrennen der Elektrodenklemme bei hohen Temperaturen vermieden werden.
- Aktivieren Sie die Sicherheitsverriegelung der Kammertür, um die Sicherheit der Bediener zu gewährleisten.
| Optischer Pfad | Vertikal symmetrischer Ebert-Fastic-Typ | Aktueller Bereich | 2~20A (Wechselstrom) 2–15 A (Gleichstrom) |
| ebene Gitterlinien | 2400 Stück/mm | Anregungslichtquelle | Wechsel-/Gleichstrombogen |
| Brennweite des optischen Weges | 600 mm | Gewicht | etwa 180 kg |
| Theoretisches Spektrum | 0,003 nm (300 nm) | Abmessungen (mm) | 1500 (L) × 820 (B) × 650 (H) |
| Auflösung | 0,64 nm/mm (erste Klasse) | Konstante Temperatur der Spektroskopiekammer | 35 °C ± 0,1 °C |
| Streuungsverhältnis der fallenden Linie | Synchrones Hochgeschwindigkeits-Datenerfassungssystem auf Basis von FPGA-Technologie für Hochleistungs-CMOS-Sensoren | Umweltbedingungen | Raumtemperatur 15 °C ~ 30 °C Relative Luftfeuchtigkeit |



